Laboratoř litografie - přehled




Vzduchotechnika


Řídicí jednotka Programovatelná řídicí jednotka.





Hlavní ventilační jednotka Hlavní ventilační jednotka.




Čištěný vzduch je rozváděn do jednotlivých místností, kde prochází koncovými filtry (jeho základní čistota pak odpovídá zhruba třídě 10000). Pomocí bezprašných boxů s laminárním prouděním je tento vzduch čištěn dále (na pracovišti sekce litografie monolitických struktur se tak dosahuje jeho výsledné čistoty blížící se třídě 100).



Systém přípravy deionizované vody


Čistička reverzní osmózou Čistička na principu reverzní osmózy.




Deionizační a filtrační jednotka Deionizační a filtrační jednotka.



Popis systému přípravy a oběhu DI vody.

 

Sekce vakuových procesů


Barelová leptačka
Standardní plasmová leptací aparatura barelového typu.
Užívá se přednostně pro začišťování rezistových masek a pro spalování rezistů v kyslíkové plazmě.





Planární leptačka Laboratorní plazmová leptačka s planární konfigurací elektrod.
Užívá se pro suché leptání izolačních vrstev (oxidů a nitridů křemíku).






RIE
Experimentální leptací aparatura pro reaktivní iontové leptání (RIE).







A400VL
Vakuové depoziční a leptací zařízení.


Popis zařízení.

 






Pracoviště litografie monolitických struktur


Čistá zóna pro depozici a zpracování rezistů.
Čistá zóna pro depozici a zpracování rezistových vrstev.






Box zpracování rezistů
Pracoviště pro nanášení a zpracování rezistových vrstev.






Box mokrého leptání Pracoviště pro mokré leptání.







Čistá zóna pro sesazovací expoziční zařízení
Čistá zóna pro sesazovací expoziční zařízení.






Kontaktní expoziční zařízení - 1
Kontaktní sesazovací a expoziční zařízení (s mikroskopem s děleným polem).



Projekční (krokovací) expoziční zařízení
Projekční (krokovací: DSW - Direct Step on Wafer) expoziční zařízení.



Kontaktní expoziční zařízení - 2
Sesazovací a expoziční zařízení pro malé masky (se standardním mikroskopem).



Optická kontrola a měření


Box optické kontroly
Pracoviště optické kontroly (v prostoru litografie monolitických struktur).





Testovací zařízení Optický reflektometr a měřič odporu čtyřbodovou metodou.





Pracoviště montáže vzorků

 (mimo čisté prostory pro litografii)


mikropila
Diamantová mikropila.






Montážní pracoviště
Zařízení pro montáž a pro výstupní optickou kontrolu
(čipový mikromanipulátor, mikroskop LEITZ Ergolux/ICR,
projekční inspekční mikroskop, mikrodrátková kontaktovací zařízení).







Zpět na domovskou stránku laboratoře



Aktualizace: 7.7.2006

 

   English