Rezonanční Tunelové Diody
(RTD)
MBE - litografie - FZÚ AV ČR odd.15
Detaily a popisy V-A charakteristik jsou zřejmé po zvětšení grafů
(kliknutím na jejich plochu).
MBE-388: 77K
bariéry GaAlAs
|
Vpravo: V-A charakteristika při obou polaritách přiložených na strukturu RTD
(křivky ve I. resp. III. kvadrantu). V obou těchto případech se projevuje hystereze v oblasti
vertikálních přeskoků (průběh při růstu - modrá křivka, při poklesu napětí
- červená křivka). Odlišnosti v průběhu obou charakteristik jsou způsobeny nesymetrií v
uspořádání heterostruktury:
|
|
Dole: Detailní průběhy charakteristik v okolí +0,59 V a -0,36 V:
MBE-413: 77 K
bariéry GaAlAs (polarita +/-)
Vlevo: hystereze v okolí oblastí NDR (průběh při: růstu - modrá
křivka, poklesu napětí - červená křivka),
vpravo: detail oblasti vertikálního přeskoku mezi větvemi charakteristik:
MBE-434: 77 K
bariéry AlAs (defektní ohmické kontakty)
Oblast NDR posunuta k vyšším napětím v důsledku úbytku napětí
(především na kontaktu "M"):
MBE-438: 300 K
bariéry AlAs
Struktura při 300 K (technologie
"DUO": plocha mesy = ploše "M" kontaktu = 100x100 [µm2]):
Struktura při 300 K (
klasická technologie: plocha mesy ~340x140 [µm2],
plocha "M" kontaktu = 100x100 [µm2] - viz pozn.):
|
Vpravo: Průběh V-A charakteristiky v oblasti NDR (vertikálního
přeskoku) při 77K (klasická technologie, jiný vzorek s plochou mesy ~340x140 [µm2] a
"M"kontaktu 100x100 [µm2]), vlevo: zvětšené drobnější oblasti NDR z téže
charakteristiky.
|
|
|
Vpravo a další řady: Teplotní změny průběhu V-A charakteristik. Vzrůstající čísla křivek odpovídají
postupnému ohřevu od 77K (č.1) k pokojové teplotě (č.28):
|
|
V teplotní oblasti odpovídající křivce č.10 se mění charakter oblasti NDR z
vertikálního přeskoku na strukturovaný průběh: |
|
|
|
Strukturované průběhy v oblasti NDR (křivky 13-15): |
|
|
Struktura charakteristiky v oblasti NDR se vytrácí s přibližováním k pokojové
teplotě (křivka č.28): |
|
Pozn.: Poměry ploch "Mesa/M-kontakt": 4,8 (struktura "100"), 7,7 ("150"),
14,5 ("250")
Parametry heterostruktur RTD (MBE) zde
Vlastnosti vzorků HEMT (MBE) zde
Fotodokumentace vzorků zde
Aktualizace: 31.12.2003